Konstruktion und Entwicklung eines Kamerahalters für den Einsatz in einem Elektronenrastermikroskop. Einsatzgebiet ist die Untersuchung von Oberflächen im Nanometerbereich.
Konstruktion und Entwicklung von einem „SEMPA“ (Polarimeter für ein Elektronenrastermikroskop) zur Polarisationsmessung (Spin) von Elektronen auf Werkstoffproben. Einsatzgebiet ist die Untersuchung von Oberflächen im Nanometerbereich.
